![]() | 半微量电子天平PWN125DZH量程:50/120g ,可读性:0.01/0.1mg ,校准方式:内部校准 |
![]() | 半微量电子天平PWN85ZH量程:82g ,可读性:0.01mg ,校准方式:内部校准 |
![]() | 半微量电子天平PWN225DZH量程:82/220g ,可读性:0.01/0.1mg ,校准方式:内部校准 |
![]() | 微量分析天平XPE26DR量程及可读性:5.1g/2ug,22g/0.01mg,校准方式:内部校准 |
![]() | 微量分析天平XPE56量程:52g,精度:1ug,校准方式:内部校准。 |
![]() | 微量分析天平XPE26量程:22g,精度:1ug,校准方式:内部校准 |
![]() | XP26DR微量天平量程及可读性:5.1g/2ug,22g/0.01mg,校准方式:内部校准。 |
![]() | XP56DR微量天平量程及可读性:11g/2ug,52g/0.01mg,校准方式:内部校准。 |
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